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奈米EHS知識
10.應如何測量工作場所奈米物質的暴露?

簡易的奈米微粒逸散量測可使用手提式凝結微粒計數器(condensation particle counter, CPC)。目前的研究指出,微粒粒徑、團聚狀態、成份、形貌、表面積和表面化學(活性)等為測量奈米物質時的最重要參數,世界各國的科學家正努力發展測量懸浮奈米物質暴露的可能方法及技術。


 

網頁更新日期:2016/06/15